Фотоэлектрическая спектроскопия

Большая Советская энциклопедия Большой англо-русский и русско-английский словарь Физическая энциклопедия Физическая энциклопедия Русско-английский политехнический словарь

Большая Советская энциклопедия

определение химического состава примесей в полупроводниках и изучение их энергетической структуры по спектрам примесной фотопроводимости (См. Фотопроводимость). Примесный атом в полупроводнике может находиться в основном (невозбуждённом) или одном из возбуждённых энергетических состояний. Спектр этих состояний специфичен для каждого химического элемента примеси в данном полупроводнике. Если облучать полупроводник монохроматическим излучением, плавно изменяя частоту ω, т. е. энергию фотонов ηω(где η – Планка постоянная), то всякий раз, когда ηωбудет совпадать с энергетическим зазором между основным и одним из возбуждённых состояний, атом примеси соответствующего сорта будет переходить в это возбуждённое состояние, поглощая фотон. Можно подобрать температуру кристалла так, что энергия его тепловых колебаний окажется достаточной для ионизации возбуждённого атома (но недостаточной для ионизации невозбуждённого атома). Тогда будет происходить двухступенчатая фототермическая ионизация примесных атомов: сначала оптическое возбуждение, а затем термическая ионизация. Её результатом является выброс электрона или дырки из атома примеси в зону проводимости и соответственно – фотопроводимость.

Спектр примесной фотопроводимости состоит из набора пиков, каждый из которых соответствует энергии фотонов, вызывающих переход в одно из возбуждённых состояний атомов примеси определенного сорта (см.рис.). Высоты пиков в широких пределах изменения концентраций примесей не зависят от этих концентраций. Благодаря этому Ф. с. позволяет обнаруживать ничтожно малые количества примесей. Например, в образце Ge, спектр которого приведён на рисунке, суммарная концентрация примесных атомов составляет 10-11% от общего числа атомов. Теоретический предел чувствительности Ф. с. ещё на несколько порядков ниже.

Лит.: Лифшиц Т. М., Лихтман Н. П., Сидоров В. И., Фотоэлектрическая спектроскопия примесей в полупроводниках, «Письма в редакцию ЖЭТФ», 1968, т. 7, в. 3, с. 111–14; Коган Ш. М., Седунов Б. И., Фототермическая ионизация примесного центра в кристалле, «Физика твердого тела», 1966, т. 8, в. 8, с. 2382–89; Быкова Е. М., Лифшиц Т. М., Сидоров В. И., Фотоэлектрическая спектроскопия, полный качественный анализ остаточных примесей в полупроводнике, «Физика и техника полупроводников», 1973, т. 7, № 5, с. 986–88; Kogan Sh. М., Lifshits, T. М., Photoelectric Spectroscopy – a new Method of Analysis of Impurities in Semiconductors, «Physica status solidi (a)», 1977, 39, № 1, p. 11.

Т. М. Лифшиц.

Фотоэлектрический спектр Ge с примесями B, Al, Ga.

Большой англо-русский и русско-английский словарь

photoelectric spectroscopy

Физическая энциклопедия

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ

- см. Фототермоионизационная спектроскопия.

Физическая энциклопедия

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ

определение хим. состава и исследование энергетич. структуры примесей в полупроводниках по спектрам их примесной фотопроводимости. В Ф. с. используется двухступенчатая ионизация примесных атомов: сначала атом примеси поглощает фотон и переходит в связанное возбуждённое состояние, а затем ионизуется тепловыми колебаниями атомов кристалла (фототермическая ионизация). Для оптич. возбуждения примесных атомов ПП облучают монохроматич. излучением, плавно изменяя его частоту n (энергию фотонов hn). При определ. n, когда hn станет равной разности энергий основного и одного из возбуждённых уровней энергии примесного атома, последний, поглощая фотон, переходит в возбуждённое состояние. Темп-ра кристалла подбирается такой, чтобы ионизовались только возбуждённые атомы. В результате при определ. n (длинах волн света?) в ПП появляются свободные носители тока (эл-ны или дырки), т. е. возникает фотопроводимость. Положение линий в спектре фотопроводимости характерно для каждого сорта атомов примеси в данном ПП (рис.).

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ> </p>
<p> Фотоэлектрич. спектр сверхчистого Ge. Суммарная концентрация примесей В и А1 составляет 10-11%.</p> </p>
<p> По форме спектра и отд. линий исследуют энергетич. структуру примесных атомов, их вз-ствие, образование примесных комплексов, степень неоднородности распределения примесных атомов, а также определяют их хим. состав. </p> </p>
<p> Ф. с.— весьма чувствит. метод анализа. Так, в образце Ge, спектр к-рого приведён на рис., суммарная концентрация электрически активных примесей =10-11% (теоретич. предел чувствительности Ф. с. ещё на неск. порядков ниже). Относит. концентрации разл. примесей в ПП измеряют по интенсивностям линий в спектре. Определение абс. концентраций требует дополнит. измерения концентрации эл-нов (или дырок) при такой темп-ре, когда все примеси термически ионизованы (см. ХОЛЛА ЭФФЕКТ). Ф. с. позволяет установить состав как осн., так и компенсирующих примесей в ПП. Существуют варианты Ф. с.: лазерная магн. Ф. с. (лазерное фотовозбуждение примесей в ПП, находящемся в магн. поле) и лазерная электрич. Ф. с. (ионизация возбуждённых светом примесных атомов электрич. полем вместо термоионизации). </p> </p>
<p> Ф. с. используется для исследования и анализа примесей в кремнии, арсениде галлия, фосфиде галлия, фосфиде индия, антимониде индия, теллуриде кадмия, алмазе.</p></div>
                </div>
                            <div id=

Русско-английский политехнический словарь

photoelectric spectroscopy