Рентгеновский дифрактометр

прибор для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Р. д. применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа (См. Рентгеновский структурный анализ). Он позволяет измерять интенсивности дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до 10-х долей процента и углы дифракции с точностью до 10-х долей минуты. С помощью Р. д. можно производить фазовый анализ поликристаллических объектов и исследование текстур (См. Текстура), ориентировку монокристальных блоков, получать полный набор интенсивностей отражений от монокристалла, исследовать структуру многих веществ при различных внешних условиях и т.д.

Р. д. состоит из источника рентгеновского излучения, рентгеновского гониометра (См. Рентгеновский гониометр), в который помещают исследуемый образец, детектора излучения и электронного измерительно-регистрирующего устройства. Детектором в Р. д. служит не фотоплёнка, как в рентгеновской камере (См. Рентгеновская камера), а счётчики квантов (сцинтилляционные, пропорциональные, полупроводниковые счётчики или Гейгера - Мюллера счётчики). Дифракционную картину образца в Р. д. получают последовательно: счётчик перемещается в процессе измерения и регистрирует попавшую в него энергию излучения за определённый интервал времени. По сравнению с рентгеновскими камерами Р. д. обладают более высокой точностью, чувствительностью, большей экспрессностью. Процесс получения информации в Р. д. может быть полностью автоматизирован, поскольку в нём отсутствует необходимость проявления фотоплёнки, причём в автоматическом Р. д. прибором управляют ЭВМ, полученные данные поступают на обработку в ЭВМ. Универсальные Р. д. можно использовать для различных рентгеноструктурных исследований, заменяя приставки к гониометрическому устройству. В больших лабораториях применяются специализированные дифрактометры, предназначенные для решения какой-либо одной задачи рентгеноструктурного анализа.

Лит.: Хейкер Д. М., Зевин Л. С., Рентгеновская дифрактометрия, М., 1963; Хейкер Д. М., Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов, Л., 1973.

Д. М. Хейкер.

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР - прибор для рентгеновского структурного анализа, в котором используются фотоэлектрические приемники излучения. Измеряет интенсивности и направления дифракционных пучков.

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР

прибор для измерения интенсивности и направления рентг. пучков, дифрагированных на крист. объекте (см. ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ), Р. д. применяется для решения разл. задач рентгеновского структурного анализа, рентгенографии материалов. Он позволяет измерять интенсивность дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до десятых долей % и угол дифракции с точностью до десятых долей мин.

Р. д. состоит из источника рентгеновского излучения, рентгеновского гониометра, в к-рый помещают исследуемый образец, детектора излучения и электронного измерительно-регистрирующего устройства. Детектором в Р. д. служат не фотоматериалы, как в рентгеновской камере, а сцинтилляционные, пропорциональные и ПП счётчики. В процессе измерения счётчик перемещается и регистрирует в каждой точке энергию излучения за определённый интервал времени. Используются также одномерные и двумерные позиционно-чувствительные детекторы, фиксирующие одновременно интенсивность и координаты неск. отражений. По сравнению с рентг. камерами Р. д. обладают более высокой точностью, чувствительностью, большей экспрессностью. Процесс получения информации в Р. д. может быть полностью автоматизирован, поскольку в нём отсутствует необходимость проявления фотоплёнки, причём в автоматич. Р. д. ЭВМ управляют прибором и обрабатывают полученные данные. Универс. Р. д. можно использовать для разл. рентгеноструктурных исследований, заменяя приставки к гониометрич. устройству. В больших лабораториях применяются специализир. Р. д., предназначенные для решения к.-л. одной задачи.

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР, прибор, служащий для анализа схемы расположения атомов, которая определяет кристаллическую структуру минерала. Рентгеновские лучи, проходя через симметрично выстроенные атомы кристалла, отражаются, создавая правильный рисунок; при этом атомы действуют как ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА. Фотография этого рисунка позволяет судить о межатомных расстояниях, пространственном расположении и связях внутри кристалла. см. также РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ.

рентге́новский дифракто́метр

прибор для рентгеновского структурного анализа, в котором используются фотоэлектрические приёмники излучения. Изменяет интенсивности и направления дифракционных пучков.

* * *

РЕНТГЕ́НОВСКИЙ ДИФРАКТО́МЕТР, прибор для рентгеновского структурного анализа, в котором используются фотоэлектрические приемники излучения. Измеряет интенсивности и направления дифракционных пучков.

прибор для рентгеноструктурного анализа; служит для измерения интенсивности и направления рентгеновских лучей, дифрагир. на кристаллич. объекте. Состоит из источника рентгеновского излучения (рентгеновской трубки); гониометрич. устройства, одновременно регистрирующего направление дифрагир. лучей и положение исследуемого образца в момент дифракции; детектора излучения (напр., Гейгера - Мюллера счётчика) и электронного измерительно-регистрирующего устройства. Дифракц. картину образца в Р. д. получают, перемещая счётчик в процессе измерения и регистрируя попавшую в него энергию излучения за определ. интервал времени. Погрешность измерения интенсивности до долей %, углов дифракции - до долей...'.

X-ray diffractometer

diffrattometro a raggi X

прибор для рентгеновского структурного анализа, в к-ром используются фотоэлектрич. приёмники излучения. Изменяет интенсивности и направления дифракц. пучков.