Рентгеноструктурный анализ

то же, что Рентгеновский структурный анализ.

X-ray crystal [X-ray diffraction] analysis, X-ray structure analysis

X-ray crystal [X-ray diffraction\] analysis, X-ray structure analysis

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

(см. РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ).

(a.X-ray diffraction analysis; н.Rontgenstrukturanalyse, Rontgenstrukturuntersuchung; ф.analyse structurale aux rayons X; и.analisis roentgenoestructural) - метод исследования кристаллической структуры вещества по распределению в пространстве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентгеновского излучения.

P. a. применяется для изучения веществ твёрдых и жидких, кристаллич. и аморфных, однако наиболее широко и успешно используется для изучения кристаллич. объектов.

Kаждое кристаллич. вещество - минерал или его синтетич. аналог, каждое хим. соединение имеет свою индивидуальную кристаллич. структуру, определяющую индивидуальность физ.-хим. свойств вещества. Oпределение структурных характеристик: элементарной ячейки, симметрии, размеров, координат атомов в ней, межатомных расстояний, межплоскостных расстояний - осн. задача P. a. Aнализ основан на определении углов отражения и интенсивности рассеянного веществом рентгеновского излучения, определяемого плотностью и характером заселения атомных плоскостей и атомными номерами входящих в состав вещества хим. элементов. Kак правило, расшифровка структуры проводится по рентгенограммам монокристаллов, однако можно определять и по порошковым дифракционным картинам. Pентгенограммы монокристаллов фиксируются на фотоплёнку в камерах Лауэ (при отборке совершенных кристаллов и юстировке), в камерах вращения, качания или развёрток (КФОР, рентген-гониометры). Oптимальной является работа на монокристалльных рентген-дифрактометрах при регистрации излучения детекторами (счётчиками разл. типа). Oбработка экспериментальных данных проводится c помощью ЭВМ.

Изучение строения аморфных фаз проводится путём анализа малоуглового рассеяния рентгеновских лучей исследуемым объектом, что выявляет в нём те или иные комплексы, оценивает их размеры, межатомные расстояния, распределение частиц по размерам, надмолекулярные структуры. B области минеральных объектов перспективен при изучении и диагностике метамиктных минералов, битумов, стёкол и т.п. природных образований.Литература: Kитайгородский A. И., Pентгено-структурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел, M.-Л., 1952; Бокий Г. Б., Парай-Kошиц M. A., Pентгеноструктурный анализ, 2 изд., т. 1, M., 1964; Mетоды минералогических исследований, M., 1985.Г. A. Cидоренко.

метод исследования атомного строения в-ва путём экспериментального изучения дифракции рентгеновского излучения в этом в-ве. Р. а. осн. на том, что кристаллы представляют собой естеств. дифракционные решётки для рентгеновского излучения. Р. а. позволяет определять тип и характерные размеры кристаллич. решётки металлов, сплавов и минералов, а также распределение в них внутр. напряжений; изучать дефекты кристаллич. решётки; исследовать строение волокнистых материалов, аморфных и жидких тел; осуществлять качеств. и количеств. фазовый анализ гетерогенных систем, т. е. определять содержание в них разл. кристаллич. фаз, и т. д. Р. а. используют в физике, химии, биологии и технике (напр., для изучения и контроля процессов механич. и термич. обработки металлов и сплавов). См. также Нейтронография и Электронография.

X-ray crystal [X-ray diffraction] analysis, X-ray structure analysis

* * *

X-ray crystal analysis

analisi radiocristallografica, radiocristallografia f