Подробно рассмотрены проблемы уязвимости микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) к естественным и преднамеренным деструктивным воздействиям, включающим кибернетические и электромагнитные воздействия. Описаны современные технические средства, с помощью которых могут осуществляться преднамеренные дистанционные деструктивные воздействия на МУРЗ. Рассмотрены как традиционные пассивные (экранированные шкафы, фильтры, кабели, специальные материалы и покрытия) средства защиты, так и новые, основанные на схемотехнических и аппаратных методах. Для инженеров, занимающихся разработкой, проектированием и эксплуатацией релейной защиты, а также для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов соответствующих дисциплин средних и высших учебных заведений. Это и многое другое вы найдете в книге Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения 3-е изд., перераб. и доп (В. И. Гуревич)