Подробная информация о книге «Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития) Александр Сергеевич Комаров, Евгений Иванович Шульгин, Дмитрий Владимирович Крапухин, Петр Павлович Мальцев». Сайт не предоставляет возможности читать онлайн или скачать бесплатно книгу «Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития) Александр Сергеевич Комаров, Евгений Иванович Шульгин, Дмитрий Владимирович Крапухин, Петр Павлович Мальцев».
| Полное название книги | Александр Сергеевич Комаров, Евгений Иванович Шульгин, Дмитрий Владимирович Крапухин, Петр Павлович Мальцев Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития) |
| Тип | Книга |
| Авторы | Александр Сергеевич Комаров, Евгений Иванович Шульгин, Дмитрий Владимирович Крапухин, Петр Павлович Мальцев |
| Категории | |
| ISBN | |
| Возрастное ограничение | 18 |
| Год | |
| Название транслитом | upravlenie-tehnicheskim-urovnem-vysokointegrirovannyh-elektronnyh-sistem-nauchno-tehnologicheskie-problemy-i-aspekty-razvitiya-evgeniy-shulgin-dmitriy-krapuhin-aleksandr-komarov |
| Просмотров | 0 |
| Рейтинг enc.su | 0,0 |
В монографии представлены результаты исследований и разработок по реализации «Основ политики Российской Федерации в области развития электронной компонентной базы на период до 2010 г. и дальнейшую перспективу», утвержденным президентом Российской Федерации.
Сформулированы основные принципы и методы управления техническим уровнем при реализации системной организации по проектированию, моделированию и технологическому обеспечению изготовления СБИС типа «система на кристалле», разработана концепция построения инфраструктуры сквозного проектирования сложно-функциональных СБИС от системного уровня до топологии кристалла, выбора технологического базиса для изготовления СБИС с учетом обеспечения специальных требований по радиационной стойкости, организации процесса изготовления фотошаблонов и микросхем, последующего их тестирования, сборки, испытаний и применения.
Пока еще никто не написал рецензию на эту книгу.