Подробная информация о книге «Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие В. Н. Черняев, О. П. Глудкин». Сайт не предоставляет возможности читать онлайн или скачать бесплатно книгу «Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие В. Н. Черняев, О. П. Глудкин».
Приведены сведения по основам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности. Предназначена в качестве учебного пособия для студентов вузов по специальностям 0604, 0629, 0648, 0705. Это и многое другое вы найдете в книге Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие (О. П. Глудкин, В. Н. Черняев)
| Полное название книги | В. Н. Черняев, О. П. Глудкин Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие |
| Тип | Книга |
| Авторы | В. Н. Черняев, О. П. Глудкин |
| Категории | Антикварные книги, Букинистика, Художественная литература, Книги |
| ISBN | |
| Возрастное ограничение | 18 |
| Издательство | Энергия |
| Год | 1980 |
| Название транслитом | tehnologiya-ispytaniya-mikroelementov-radioelektronnoy-apparatury-i-integralnyh-mikroshem-uchebnoe-posobie-o-p-gludkin-v-n-chernyaev |
| Просмотров | 2 |
| Рейтинг enc.su | 0,0 |
Пока еще никто не написал рецензию на эту книгу.