Рассмотрена методика изучения структуры металлических сплавов и полупроводниковых материалов путем использования дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов. Даны методы рентгеновской спектроскопии, рентгеновской и гамма-дефектоскопии. Освещены свойства рентгеновских и гамма-лучей.

Допущено Министерством высшего и среднего специального образования СССР в качестве учебного пособия для студентов металлургических специальностей высших учебных заведений и может быть полезна инженерам-исследователям, работающим в области технологии металлических сплавов полупроводниковых материалов. Это и многое другое вы найдете в книге Рентгенография металлов и полупроводников (Я. С. Уманский)