Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение Джи Лиу, С. А. Иванов, М. Дэвид Фрей, Джон Б. Уайли, Дэвид Джой, К. И. Домкин, Ксудонг Уанг, Жонг Лин Уанг, Уэйли Жу, Пенг Уанг, А. Борисевич, Чарльз Дж. О'Коннор, Роберт Андерхальт, Поль Анзалоне, П. Роберт Апкариан, Даниела Карунту, Габриэль Карунту, М. Ф. Чишолм, Лэсли Энглин Кэмпбэлл, Пу Ксиан Га, А. Люсиль Джианнуцци, Риши Гупта, Джиани Ли, Фенг Ли, Ксиаохуа Лиу, А. Р. Лупини, Питер Экс. Ма, Тим Мейтланд, М. П. Оксли, Ю. Пэнг, Стив Пенникук, Ричард Сталлкап, Скотт Ситцмэн, К. Ван Бентэм, Брэнден Ван Леер, М. Варела, Гуобао Уэй, Мо Жу, Джоу Нэйбити (книга)
Подробная информация о книге «Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение Джи Лиу, С. А. Иванов, М. Дэвид Фрей, Джон Б. Уайли, Дэвид Джой, К. И. Домкин, Ксудонг Уанг, Жонг Лин Уанг, Уэйли Жу, Пенг Уанг, А. Борисевич, Чарльз Дж. О'Коннор, Роберт Андерхальт, Поль Анзалоне, П. Роберт Апкариан, Даниела Карунту, Габриэль Карунту, М. Ф. Чишолм, Лэсли Энглин Кэмпбэлл, Пу Ксиан Га, А. Люсиль Джианнуцци, Риши Гупта, Джиани Ли, Фенг Ли, Ксиаохуа Лиу, А. Р. Лупини, Питер Экс. Ма, Тим Мейтланд, М. П. Оксли, Ю. Пэнг, Стив Пенникук, Ричард Сталлкап, Скотт Ситцмэн, К. Ван Бентэм, Брэнден Ван Леер, М. Варела, Гуобао Уэй, Мо Жу, Джоу Нэйбити». Сайт не предоставляет возможности читать онлайн или скачать бесплатно книгу «Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение Джи Лиу, С. А. Иванов, М. Дэвид Фрей, Джон Б. Уайли, Дэвид Джой, К. И. Домкин, Ксудонг Уанг, Жонг Лин Уанг, Уэйли Жу, Пенг Уанг, А. Борисевич, Чарльз Дж. О'Коннор, Роберт Андерхальт, Поль Анзалоне, П. Роберт Апкариан, Даниела Карунту, Габриэль Карунту, М. Ф. Чишолм, Лэсли Энглин Кэмпбэлл, Пу Ксиан Га, А. Люсиль Джианнуцци, Риши Гупта, Джиани Ли, Фенг Ли, Ксиаохуа Лиу, А. Р. Лупини, Питер Экс. Ма, Тим Мейтланд, М. П. Оксли, Ю. Пэнг, Стив Пенникук, Ричард Сталлкап, Скотт Ситцмэн, К. Ван Бентэм, Брэнден Ван Леер, М. Варела, Гуобао Уэй, Мо Жу, Джоу Нэйбити».
Поделиться
Рейтинг книги enc.su: 0,0
О книге
| Полное название книги | Джи Лиу, С. А. Иванов, М. Дэвид Фрей, Джон Б. Уайли, Дэвид Джой, К. И. Домкин, Ксудонг Уанг, Жонг Лин Уанг, Уэйли Жу, Пенг Уанг, А. Борисевич, Чарльз Дж. О'Коннор, Роберт Андерхальт, Поль Анзалоне, П. Роберт Апкариан, Даниела Карунту, Габриэль Карунту, М. Ф. Чишолм, Лэсли Энглин Кэмпбэлл, Пу Ксиан Га, А. Люсиль Джианнуцци, Риши Гупта, Джиани Ли, Фенг Ли, Ксиаохуа Лиу, А. Р. Лупини, Питер Экс. Ма, Тим Мейтланд, М. П. Оксли, Ю. Пэнг, Стив Пенникук, Ричард Сталлкап, Скотт Ситцмэн, К. Ван Бентэм, Брэнден Ван Леер, М. Варела, Гуобао Уэй, Мо Жу, Джоу Нэйбити Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение |
| Тип | Книга |
| Авторы | Джи Лиу, С. А. Иванов, М. Дэвид Фрей, Джон Б. Уайли, Дэвид Джой, К. И. Домкин, Ксудонг Уанг, Жонг Лин Уанг, Уэйли Жу, Пенг Уанг, А. Борисевич, Чарльз Дж. О'Коннор, Роберт Андерхальт, Поль Анзалоне, П. Роберт Апкариан, Даниела Карунту, Габриэль Карунту, М. Ф. Чишолм, Лэсли Энглин Кэмпбэлл, Пу Ксиан Га, А. Люсиль Джианнуцци, Риши Гупта, Джиани Ли, Фенг Ли, Ксиаохуа Лиу, А. Р. Лупини, Питер Экс. Ма, Тим Мейтланд, М. П. Оксли, Ю. Пэнг, Стив Пенникук, Ричард Сталлкап, Скотт Ситцмэн, К. Ван Бентэм, Брэнден Ван Леер, М. Варела, Гуобао Уэй, Мо Жу, Джоу Нэйбити |
| Категории | |
| ISBN | |
| Возрастное ограничение | 18 |
| Год | |
| Название транслитом | rastrovaya-elektronnaya-mikroskopiya-dlya-nanotehnologiy-metody-i-primenenie-dzhi-liu-m-frey-dzhon-uayli-devid-dzhoy-ksudong-uang-zhong-uang-ueyli-zhu-peng-uang-a-borisevich-charlz-o-konnor-robert-anderhalt-pol-anzalone-p-apkarian-daniela-karuntu-gabriel-karuntu-m-chisholm-lesli-kempbell-pu-ga-a-dzhiannucci-rishi-gupta-dzhiani-li-feng-li-ksiaohua-liu-a-lupini-piter-ma-tim-meytland-m-oksli-yu-peng-stiv-pennikuk-richard-stallkap-skott-sitcmen-k-bentem-brenden-leer-m-varela-guobao-uey-mo-zhu-dzhou-neybiti |
| Просмотров | 0 |
| Рейтинг enc.su | 0,0 |
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.
Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов.
Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
Напишите вашу рецензию на книгу:
Джи Лиу, С. А. Иванов, М. Дэвид Фрей, Джон Б. Уайли, Дэвид Джой, К. И. Домкин, Ксудонг Уанг, Жонг Лин Уанг, Уэйли Жу, Пенг Уанг, А. Борисевич, Чарльз Дж. О'Коннор, Роберт Андерхальт, Поль Анзалоне, П. Роберт Апкариан, Даниела Карунту, Габриэль Карунту, М. Ф. Чишолм, Лэсли Энглин Кэмпбэлл, Пу Ксиан Га, А. Люсиль Джианнуцци, Риши Гупта, Джиани Ли, Фенг Ли, Ксиаохуа Лиу, А. Р. Лупини, Питер Экс. Ма, Тим Мейтланд, М. П. Оксли, Ю. Пэнг, Стив Пенникук, Ричард Сталлкап, Скотт Ситцмэн, К. Ван Бентэм, Брэнден Ван Леер, М. Варела, Гуобао Уэй, Мо Жу, Джоу Нэйбити «Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение»
Рецензии пользователей
Пока еще никто не написал рецензию на эту книгу.