Книга посвящена разработке новой теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Построена система соотношений, определяющих результаты измерений и методические погрешности. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Книга предназначена для специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники. Это и многое другое вы найдете в книге Основы теории статистических измерений (Э. И. Цветков)