Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств С. С. Ковалевский, Е. Ф. Березкин, И. О. Атовмян, В. Б. Шувалов (книга)
Подробная информация о книге «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств С. С. Ковалевский, Е. Ф. Березкин, И. О. Атовмян, В. Б. Шувалов». Сайт не предоставляет возможности читать онлайн или скачать бесплатно книгу «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств С. С. Ковалевский, Е. Ф. Березкин, И. О. Атовмян, В. Б. Шувалов».
Поделиться
Рейтинг книги enc.su: 0,0
О книге
| Полное название книги | С. С. Ковалевский, Е. Ф. Березкин, И. О. Атовмян, В. Б. Шувалов Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств |
| Тип | Книга |
| Авторы | С. С. Ковалевский, Е. Ф. Березкин, И. О. Атовмян, В. Б. Шувалов |
| Категории | |
| ISBN | |
| Возрастное ограничение | 18 |
| Год | |
| Название транслитом | optimizaciya-testirovaniya-slozhnyh-cifrovyh-ustroystv-i-atovmyan-v-shuvalov-e-berezkin-s-kovalevskiy |
| Просмотров | 0 |
| Рейтинг enc.su | 0,0 |
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Напишите вашу рецензию на книгу:
С. С. Ковалевский, Е. Ф. Березкин, И. О. Атовмян, В. Б. Шувалов «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств»
Рецензии пользователей
Пока еще никто не написал рецензию на эту книгу.