Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов Э. И. Цветков, А. Ф. Котюк, В. В. Ольшевский (книга)
Подробная информация о книге «Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов Э. И. Цветков, А. Ф. Котюк, В. В. Ольшевский». Сайт не предоставляет возможности читать онлайн или скачать бесплатно книгу «Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов Э. И. Цветков, А. Ф. Котюк, В. В. Ольшевский».
Поделиться
Рейтинг книги enc.su: 0,0
О книге
В книге излагаются вопросы изучения различных статистических характеристик случайных процессов, в том числе и нестационарных. Оценивается точность измерительных приборов и комплексов с позиций статистической теории. Обсуждаются методы изучения тонкой структуры случайных сигналов. Книга предназначена для специалистов в области измерений и электро- и радиоинженеров различных профилей. Это и многое другое вы найдете в книге Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов (А. Ф. Котюк, В. В. Ольшевский, Э. И. Цветков)
| Полное название книги | Э. И. Цветков, А. Ф. Котюк, В. В. Ольшевский Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов |
| Тип | Книга |
| Авторы | Э. И. Цветков, А. Ф. Котюк, В. В. Ольшевский |
| Категории | Антикварные книги, Букинистика, Художественная литература, Книги |
| ISBN | |
| Возрастное ограничение | 18 |
| Издательство | Энергия |
| Год | 1967 |
| Название транслитом | metody-i-apparatura-dlya-analiza-harakteristik-sluchaynyh-processov-e-i-cvetkov-a-f-kotyuk-v-v-olshevskiy |
| Просмотров | 8 |
| Рейтинг enc.su | 0,0 |
Напишите вашу рецензию на книгу:
Э. И. Цветков, А. Ф. Котюк, В. В. Ольшевский «Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов»
Рецензии пользователей
Пока еще никто не написал рецензию на эту книгу.