Излагаются принципы решения наиболее трудной проблемы проектирования СБИС, связанной с необходимостью тестирования СБИС. Показывается, что прогресс в решении этой проблемы может быть достигнут благодаря разработке специальных методов проектирования контролепригодных и самотестируемых схем. Рассматриваются структурные методы обеспечения самотестируемости СБИС, когда на кристалле размещаются средства генерации тестов и сигнатурной оценки результатов, а также приводятся методы, алгоритмы и программы функционального самотестирования микропроцессорных устройств. Материал включает оригинальные исследования авторов, а также современные результаты, полученные отечественными и зарубежными специалистами.

Для научных работников, специализирующихся в области проектирования и эксплуатации средств вычислительной техники. Это и многое другое вы найдете в книге Контролепригодное проектирование и самотестирование СБИС. Проблемы и перспективы (В. М. Курейчик, С. И. Родзин)