Рассматриваются главные направления теории надежности. Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем. Определяется место неразрушающего контроля в системе управления качеством. Излагаются методики климатических и механических испытаний, методы контроля качества интегральных микросхем. Рассматриваются вопросы создания автоматизированных систем управления качеством. Для учащихся техникумов по специальности "Производство изделий электронной техники". Это и многое другое вы найдете в книге Контроль качества и надежность микросхем. Учебник (З. Ю. Готра, И. М. Николаев)